行差

亦称测微器行差。用测微器量取度盘格值的实际量得值与理论值之差。度盘分划线经显微镜物镜放大后形成分划像。因此行差产生的主要原因是显微镜的物镜位置不正确而引起。行差的产生直接影响读数，而且对角度值的影响是系统误差。为了保证测角精度，测微器行差必须经常检定，作业周期长时，在作业过程中每两个月测定一次。对行差的大小应加以限制，通常J07、J1 型经纬仪其绝对值不大于1″，否则应校正显微镜物镜位置或观测方向值上加入计算改正。为了减少度盘分划系统误差的影响（长、短周期误差），行差测定应均匀地在度盘各位置上进行。