X射线干涉术
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X-ray interferometry利用X射线相继通过多块布拉格衍射晶体后产生的干涉现象来研究晶体缺陷和测量晶体基本参量的一种高精度测试技术。可用来观察晶体缺陷所引起的微小点阵参量失配（精确度达到Δd/d＝10-8)，晶体点阵中的微小角偏移（精度达到10-8弧度），精确测定位错的伯格斯矢量。在晶体学基本矢量测量方面，用来精确测定X射线折射率、晶胞参数等基本参量。在计量学方面，可与光学干涉仪配合用作X射线波长的精确测定，以及利用晶体材料测定阿伏加德罗常数等。
X-ray interferometry利用X射线相继通过多块布拉格衍射晶体后产生的干涉现象来研究晶体缺陷和测量晶体基本参量的一种高精度测试技术。可用来观察晶体缺陷所引起的微小点阵参量失配（精确度达到Δd/d＝10-8)，晶体点阵中的微小角偏移（精度达到10-8弧度），精确测定位错的伯格斯矢量。在晶体学基本矢量测量方面，用来精确测定X射线折射率、晶胞参数等基本参量。在计量学方面，可与光学干涉仪配合用作X射线波长的精确测定，以及利用晶体材料测定阿伏加德罗常数等。