第三元素影响

分析试样中除分析元素和基体元素以外的其它元素称为第三元素。第三元素影响就是伴生元素效应。当这种效应是由主要组份引起时，则称为基体效应。在发射光谱分析中，由于第三元素的存在，会引起分析元素和参比元素的分析线对强度比改变，从而影响分析结果的准确度。第三元素从两个方面来表现其干扰作用。其一是改变蒸发行为，即改变分析元素或参比元素、或同时以不同程度改变两者进入等离子体的条件；其二是改变等离子体中的激发条件，因而使分析线对强度比发生变化。在第一种情况下，如果第三元素的沸点比参比元素的低，则放电隙的平均温度将比没有该干扰元素存在时低，因而参比元素的蒸发量将减少，其谱线强度随之降低。这时尽管分析元素的浓度保持不变，分析线对的强度比却增加了。由于这种现象是与分析元素的浓度无关的，结果引起分析曲线平行位移，平移的大小取决于干扰元素的浓度。除了第三元素的沸点之外，其蒸发热也起重要的作用。如果试样中存在几种沸点近乎相同的元素，但蒸发热不同，则蒸发热较高的某个元素就会产生强烈的干扰作用。在第二种情况下，第三元素的存在，将改变等离子体中的温度、电子密度、分析元素和参比元素的蒸气压及电离度。所有这些参数都会改变从等离子体中发射出来各元素谱线的强度。这些参数不单受分析元素和参比元素的支配，而且同时受存在于等离子体中的所有元素的控制。当某个数量较大的、电离电位相当低的元素进入等离子体时，则等离子体的温度降低，其电子密度增高，而分析元素和参比元素的蒸气的电离度降低。分析时采用足够长的曝光时间和合适的光源条件，往往能减少或消除第三元素的影响，例如在分析合金材料时，用电弧光源激发时，第三元素影响较显著，当改用低自感或无自感的火花光源激发时，这种影响可以得到降低。